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調べる。発見する。解決する。

当社の革新的な顕微法およびアプリケーションに関する専門的知識は、お客様が大躍進のきっかけとなる発見を推進し、生産性を向上させ、究極的には世界を変える問題に対する有意義な答えを見つけることに役立ちます。

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FEIの製品とソリューション

走査型電子顕微鏡(SEM)

FEIには、超高分解能の画像処理と高スループットの分析性能を兼ね備えたTeneo SEMなど、用途の広い高性能走査型電子顕微鏡(SEM)製品ラインが多数あります。

FEI SEM製品の概要

SEM装置

透過型電子顕微鏡(TEM)

FEIの透過型電子顕微鏡(TEM)は、オングストローム以下レベルまでの超高分解能が要求されるアプリケーションに対応して操作が完全に統合および自動化されています。Titan S/TEM製品ラインには、世界中で市販されている中で最もパワフルな4台のS/TEMが含まれています。

FEI TEM製品の概要

TEM装置

DualBeam装置

FEIのDualBeam (FIB/SEM)装置は、3次元顕微鏡および分析で行う材料キャラクタリゼーション、工業向け故障解析、プロセス制御アプリケーションにおいて推奨されるソリューションです。

FEI DualBeam装置の概要

DualBeam装置

FIB装置

FEIの集束イオンビーム(FIB)ラインには、断面、画像処理、および透過型電子顕微鏡(TEM)の試料調製だけでなく、高度な集積回路において高速、効率的、コスト効果の高い編集を行うのに理想的な2つのモデルがあります。

FEI集束イオンビーム装置の概要

特殊製品

FEIは、材料科学、ライフサイエンス、電子機器、天然資源などのアプリケーションに合わせたソリューション、カスタム装置、および最先端のソフトウェアパッケージを作っています。

FEI装置の一覧を見る

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グローバルコラボレーションセンター

 FEI NanoPortでは、お客様にFEIの電子顕微鏡全品を詳しく分かりやすく展示しています。

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