FEIには、世界初の極高分解能(XHR) SEM、Magellan XHR走査型電子顕微鏡、さまざまな角度で3次元表面画像処理が可能な装置、ナノメートル以下の分解能で画像処理が可能な装置を含む4つの多目的高性能走査電子顕微鏡(SEM)があります。
FEI SEM製品の概要
FEIの透過電子顕微鏡(TEM)は、超高分解能からオングストームレベルまでが要求されるアプリケーションに対応して完全統合および自動化されています。 FEI Titan S/TEMラインには、世界で最もパワフルで市場で利用可能な4種類のS/TEMがあります。
FEI TEM製品の概要
FEIのDualBeam (FIB/SEM)装置は、3次元顕微鏡および分析で行うキャラクタリゼーション、工業向け故障解析、プロセス制御アプリケーションにおいて推奨されるソリューションです。 Helios NanoLab™ 50シリーズのDualBeamは、最も高度な走査型電子顕微鏡(SEM)および集束イオンビーム(FIB)技術を、検出器、ターと組み合わせています。
FEI DualBeam装置の概要
FEIの集束イオンビーム（FIB）の製品ラインには、高速で効率性とコスト効果の高い高度な集積回路の修正を実現するモデルと、クロスセクショニング、画像処理、透過電子顕微鏡（TEM）用試料調製用モデルの2種類があります。
FEIの収束イオンビーム装置の概要
FEIは、材料科学、ライフサイエンス、電子機器、自然資源などの分野において、カスタマイズしたソリューションおよび装置、および最先端ソフトウェアをパッケージにしたアプリケーションを提供しています。
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108-0075東京都港区港南2-13-34NSS-II ビル 4F電話：03-3740-0970Fax: 03-3740-0975セールス：03-3740-0970カスタマーサービス: 03-3740-0980 オンラインフォームを使ってFEIに問い合わせる
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