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Inspect走査型電子顕微鏡

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Inspect F50 SEM
高度なチャンバ真空テクノロジーなら、FEIのワールドクラスの電子光学装置と試料スループット技術で走査型電子顕微鏡(SEM)のInspect™ シリーズが実現します。重要な検査、特性評価、プロセス制御、故障解析には、Inspect S50およびInspect F50モデルの高分解能画像処理が欠かせません。画像の記録と保存に必要なすべての機能に直接アクセス可能なツールバーを備えた直感的なユーザーインタフェースとソフトウェアは、幅広い試料ホルダに順応可能なフルステージアクセスにより試料のサイズと用途にさまざまな付加価値と柔軟性が加わり、マルチユーザー環境にも適しています。

Inspectラインには、それぞれがタングステンおよびFEG向けの2台の走査型電子顕微鏡を装備し、高分解能画像処理を定期的に行う場所で使用されています。コスト効果と柔軟性が高く、最先端の走査型電子顕微鏡は、FEIの高度な技術を採用して構築されているため、材料特性や検査アプリケーションを扱う産業メーカーおよび研究所でも重要な存在です。 
 
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